– 集成式EPMA的演进 –
东京–(美国商业资讯)–日本电子株式会社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)（总裁兼首席运营官：Izumi Oi）宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微分析仪JXA-iSP100。
产品开发背景
在钢、汽车、电子零件和电池材料等广泛工业领域中，电子探针显微分析仪(EPMA)用作研发和质量控制工具。此外，在学术领域，EPMA应用于地球与行星科学和材料科学，不仅涵盖矿物能源研究，而且涉及新型材料研究，从而为各种尖端研究做出贡献。随着EPMA应用的增加，EPMA用户需要具有高可操作性的简单快速的分析，同时也要在特定感兴趣区域保持高质量的痕量元素分析性能。
为满足这些需求，从观察（光学和SEM图像）到分析，JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支持与波长色散X射线光谱仪(WDS)、能量色散X射线光谱仪(EDS)、阴极发光(CL)及其他技术的无缝集成。
主要特性
集成EPMA可实现简单快速的操作
- 高通量任何人都能以高精度执行从试样送入到分析区域确定的无缝操作。
- 高准确度分析集成式EPMA系统让任何人都能够以更高的准确度和精确度以及更快的功能，更快、更轻松地获取分析数据。
- 易于维护由于仅在需要时才自动执行维护，因此每个人都可以将EPMA系统维持在最佳状态。
JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可扩展性。其不仅可用于WDS和EDS系统，而且可结合软X射线发射分光仪(SXES)进行化学状态分析，结合电子背散射衍射系统(EBSD)进行晶体取向分析，以及整合阴极发光检测器(CL)用于广泛应用中的多样化分析。
备注：EPMA是“电子探针显微分析仪”(Electron Probe Microanalyzer)的缩写。
年度单位销售目标
70套/年
日本电子株式会社
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi，总裁兼首席运营官
（股票代码：6951，东京证券交易所第一部）
JXA-iHP200F (Photo: Business Wire)
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